Instituto de Física - USP

FAP5844 - Técnicas de Raios-X e de Feixe Iônico
Aplicadas à Análise de Materiais


Prof. Manfredo H. Tabacniks e Profa. Márcia A. Fantini

Objetivo: Proporcionar base teórica e experimental para a análise estrutural e composicional de materiais e filmes finos por meio de técnicas de raios X e de feixes iônicos com alta energia.

Programa pdf(12k)

 

Apresentação
05 ago 2008

Aula Inaugural. Visita ao Laboratório de Cristalografia e ao LAMFI.

FI-1 (pdf 1.04M)
12 ago 2008

Revisão: Interação de fótons (raios-X) com a matéria e seu uso para análise elementar: Absorção e emissão de raios-X característicos. Interação de íons energéticos com a matéria: Poder de freamento, excitação eletrônica, espalhamento elástico.

FI-2 (pdf.1.46M)
19 ago 2008

 

Raios-X para análise elementar: Fundamentos dos métodos XRF e PIXE. Análise qualitativa e quantitativa elementar. Detectores de raios-X.

FI-3 (pdf 1.2M)
26 ago 2008

Análise de espectros PIXE.

FI-4 (pdf 1.2M)
2 set 2008

Fundamentos da Espectrometria de Retroespalhamento Rutherford, RBS. Análise e interpretação de espectros RBS.
Laboratório PIXE
4-5 set 2008		  

FI-5
16 set 2008

Instrumentação, bases de dados e softwares para análise e simulação de espectros RBS. Exemplos e exercícios.

FI-6
23 set 2008

 Aplicações avançadas: Difusão em filmes finos, rugosidade, filmes multicamada e multielementares; análise PIXE de amostras espessas. Análises PIXE em feixe externo.

Laboratório RBS
18-19 set 2008

  
FI-7
30 set 2008		 Apresentação e discussão dos resultados das análises PIXE e RBS.
RX-1
7 out 2008		 Histórico, propriedades e segurança da radiação X

FI-8

Prova

Bibliografia, links e referências:

  • Johansson, S.A.E., and Campbell, J.L. PIXE, A Novel Technique for Elemental Analysis. John Wiley and Sons, 1988. Um texto básico com todos elementos do método PIXE, principiais aplicações e várias tabelas.
  • Johansson, S.A.E., Campbell, J.L. & Malmqvist, K.G. Particle Induced X-Ray Emission Spectrometry (PIXE). John Willey & Sons, Inc. New York, 1995.
  • Chu, W.K., Mayer, J.W., and Nicolet, M.A., Backscattering Spectrometry, Academic Press, New York, (1978) . É considerado a bíblia do RBS e até hoje insubstituível.
  • Feldman, L.C. & Mayer, J.W. Fundamentals of surface and thin film analysis. North-Holland, (1986). Um texto simples mas bastante abrangente sobre métodos para análise de materiais para
  • Johansson, S.A.E. and Johansson, T.B. Analytical Application of Particle Induced X-Ray Emission. Nucl. Instr. Meth. 137, (1976) 473-516. Paper clássico e completo sobre o método PIXE. Cuidado apenas com o erro de unidades na fórmula da seção de choque de ionização.