Raios X em Pesquisa & Desenvolvimento Tecnológico
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Palestras

Descobrimento dos raios X e os avanços tecnológicos
Física de raios X aplicada à nanotecnologia
Métodos computacionais em análise de materiais por raios X


Cursos

A Física de Raios X em MatLab
Difração de raios X em amostras policristalinas
Incidência razante de raios X na caracterização de superfícies
Difratometria de raios X de alta resolução: otimização e
controle de dispositivos nanoestruturados


Serviços

Consultoria Científica
Análise de Materiais


Livros

80 "FUNDAMENTOS DA FÍSICA DE RAIOS X"
Sérgio L. Morelhão
Editora Blucher (2014). ISBN 978-8-521-20754-2
80 80 80
80 "COMPUTER SIMULATION TOOLS FOR X-RAY ANALYSIS: scattering and diffraction methods"
Sérgio L. Morelhão
Editora Springer (2015). ISBN 978-3-319-19553-7


Contato
Prof. Dr. Sérgio L. Morelhão
Laboratório de Cristalografia
Depto. de Física Aplicada / Instituto de Física
Universidade de São Paulo
Rua do Matão, travessa R, 187
CEP 05508-090 Cidade Universitária, São Paulo, Brasil
Tel: +55 (11) 3091-6807 (office)
Tel: +55 (11) 3091-6706 (sec. dept.)
Fax: +55 (11) 3091-6749
e-mail: morelhao@if.usp.br,
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