Curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento - PGF5205

Informações gerais

Objetivos do curso: Introduzir alunos de pós-graduação na técnica experimental de Microscopia de Força Atômica,
Tunelamento e Força Magnética.

Carga Horária: Aulas teóricas de 2h por semana / Aulas de laboratório de 2h por semana.

Pré-requisitos: Graduação na área de exatas ou biomédicas.

Critério de Avaliação: Prova, relatórios e seminários.

Número máximo de alunos: 12

Observações: No caso de alunos de algumas unidades da USP, o período de matrícula é diferente, sendo melhor se inscreverem como alunos especiais, para depois regularizarem a matrícula no Janus. Para o caso de alunos especiais (que inclui alunos de fora da USP) a matrícula pode ser feita na secretaria de Pós-Graduação do IFUSP (telefone 3091-6901). E alunos do último ano da Graduação, também podem se matricular como alunos especiais.

Entre em contato com a Profa. Maria Cecília Salvadori (clique aqui) para entrar em uma lista de aviso sobre o período de matrícula.

Link para materiais do curso (necessário login e senha)

Bibliografia do Curso

1. S.H. Cohen, M.T. Bray, M.L. Lightbody - "Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy". Plenum Press (1994)
   
   
2. R. Wiesendanger - "Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy". Cambridge University Press (1994)
   
   
3. Yves Martin, B.J. Thompson - "Selected Papers on Scanning Probe Microscopy Design and Applications". SPIE Optical Engineering Press (1995).
   
   
4. R.J. Colton, A. Engel, J.E. Frommer, H.E. Gaub, A.A. Gewirth, R. Guckenberger, J. Rabe, W.M. Heckl, B. Parkinson - "Procedures in Scanning Probe Microscopies". John Wiley & Sons (1998).
   
   
5. C.J.Chen - "Introduction to Scanning Tunneling Microscopy". Oxford University Press (1993).
   
   
6. C. Bai - "Scanning Tunneling Microscopy and Its Applications". Springer (2000).